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梅特勒 電子分析天平
更新時間：2025-10-16
訪問量：2690
廠商性質(zhì)：代理商
生產(chǎn)地址：瑞士
簡要描述：
梅特勒AB204-S/FACT 電子分析天平：內(nèi)置標準應用程序：計件稱量, 百分比稱量, 動態(tài)稱量；顯示不同稱量單位: g, mg, lb, oz, ozt, GN, dwt, mo, m, tl。
梅特勒AB204-S/FACT 電子分析天平：
梅特勒AB204-S/FACT 電子分析天平的zui大稱重范圍為220g，可讀性為0.1mg，梅特勒AB204-S/FACT 電子分析天平采用全自動校準技術-保持！，易用和可靠，多年來提供優(yōu)質(zhì)稱量，這就是梅特勒AB204-S/FACT 電子分析天平。梅特勒AB204-S/FACT 電子分析天平的堅固的全金屬機架使它們成為您日常使用的可靠助手。
梅特勒AB204-S/FACT 電子分析天平的功能和特點：
: FACT全自動內(nèi)部校準。
背亮式液晶顯示屏: 方便用戶在不同稱量環(huán)境下讀取稱量結果。
堅固的全金屬機架：延長天平的使用壽命。
MonoBloc 單模塊傳感器技術: 具備持久的抗沖擊和抗過載性能。
堅固的操作鍵:不易磨損，易于清潔。
所有型號均提供:
塑料保護罩
RS232 接口
下掛稱量的掛鉤
我們可提供所有型號（經(jīng)驗證版本）
外置砝碼校準
內(nèi)置標準應用程序：計件稱量, 百分比稱量, 動態(tài)稱量
顯示不同稱量單位: g, mg, lb, oz, ozt, GN, dwt, mo, m, tl
梅特勒AB-S/FACT 電子分析天平的區(qū)別：
| zui大稱量范圍 | 可讀性 | |
| AB135-S/FACT DualRange 分析天平 | 31 g / 120 g | 0.01 mg / 0.1 mg |
| AB265-S/FACT 分析天平 | 61 g / 220 g | 0.01 mg / 0.1 mg |
| AB54-S/FACT 分析天平 | 51 g | 0.1 mg |
| AB104-S/FACT 分析天平 | 110 g | 0.1 mg |
| AB204-S/FACT 分析天平 | 220 g | 0.1 mg |
| AB304-S/FACT 分析天平 | 320 g | 0.1 mg |
梅特勒AB204-S/FACT 電子分析天平的技術參數(shù)：
| Search Capacity | 220 g |
| Search Readability | 0.1 mg |
| 線性 | 0.2 mg |
| 重復性 | 0.1 mg |
| 靈敏度（溫度取樣泵漂移） | 2.5 ppm/°C |
| 秤盤尺寸 | ø 80 mm |
| 穩(wěn)定時間（典型） | 3.5 s |
| 外部砝碼校準 | 100 g |
| 內(nèi)部砝碼校準 | FACT |
| 尺寸 | 245x321x344 mm （DxH） |
| 稱量盤上方的有效高度 | 237 mm |
| 接口 | RS232 |
